材料
所有分類下結(jié)果藍(lán)寶石偏光應(yīng)力儀
[中介]產(chǎn)品介紹:
PKS-250M偏光儀可對(duì)透明及弱色材料的雙折射率進(jìn)行檢測(cè)，并通過(guò)Senarmont補(bǔ)償法精確計(jì)算出光程誤差不超過(guò)10nm的雙折射率的值。并通過(guò)偏振光對(duì)雙折射率的分布進(jìn)行檢測(cè)分析。折射率的分布和大小直
硅片厚度測(cè)厚儀
[中介]硅片測(cè)厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
特征
液晶顯示
接觸式測(cè)量
手動(dòng)測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示
具有輸出接口，可選配適配器實(shí)現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)
無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過(guò)程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無(wú)損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料
硅材料綜合測(cè)試儀
[中介]硅料綜合測(cè)試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號(hào)測(cè)試儀器，具有大量程測(cè)試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門(mén)子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號(hào)測(cè)量，型
半自動(dòng)硅片厚度TTV測(cè)試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測(cè)量
■測(cè)量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測(cè)量
■測(cè)頭自動(dòng)升降
■手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
四探針電阻率方阻測(cè)試儀
[中介]本儀器用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及
硅材料碳氧測(cè)試儀
[中介]1）適合于硅材料的氧、碳含量的測(cè)定；
2）可實(shí)現(xiàn)硅料中氧碳含量自動(dòng)、快速、準(zhǔn)確的測(cè)量；
3）具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡(jiǎn)單、方便、靈活。
4）全
紅外探傷測(cè)試儀
[中介]NIR-01-3D型紅外探傷測(cè)試儀是采用歐洲CNC工程鋁合金材料，其表面都采用了高強(qiáng)度漆面和電氧化工藝保護(hù)，系統(tǒng)外框采用高質(zhì)量工業(yè)設(shè)計(jì)，所有的部件的設(shè)計(jì)都達(dá)到了長(zhǎng)期高強(qiáng)度使用及最小維護(hù)量的要求，做到絕對(duì)
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